Les appareils à fluorescence X peuv

Les appareils à fluorescence X peuvent être utilisés par les Applicateurs pour la mesure des épaisseurs de primaire, mais ils ne permettent pas de mesurer l'épaisseur de la couche de finition éventuelle; de plus, cesappareilsnécessitent la réalisation d'un étalonnagespécifique à chaqueprimaire.
Lorsquel’épaisseur ne peut pas êtremesurée par induction magnétique, ou en cas de litige entre le Fournisseur et PSA, la mesure de l’épaisseuresteffectuée par coupe micrographique (Méthode ISO 1463).

結果 (英文) 1:

XRF devices can be used by the applicators for the measurement of the thickness of the primary, but they do not measure the thickness of the eventual finishing layer; In addition, cesappareilsnecessitent an etalonnagespecifique to chaqueprimaire conducting. Where ' thickness can not etremesuree by magnetic induction, or in case of dispute between the supplier and PSA, the measure of the epaisseuresteffectuee by micrographic Cup (ISO method 1463).

結果 (英文) 2:

X fluorescence apparatus may be used by the applicators for the measurement of primary thicknesses, but they do not measure the thickness of the eventual top coat; Moreover, achieving a cesappareilsnécessitent étalonnagespécifique to chaqueprimaire.
Lorsquel'épaisseur can not êtremesurée magnetic induction, or in case of dispute between the Supplier and PSA, measuring the épaisseuresteffectuée Microscopical (Method ISO 1463).

結果 (英文) 3:

the apparatus may be used for x-ray fluorescence thickness measurement application in primary school, but they do not measure the thickness of the layer of finishing, and the realization of a étalonnagespécifique cesappareilsnécessitent to chaqueprimaire.when the thickness is not êtremesurée by magnetic induction, or in the event of a dispute between the supplier and psa, the extent of the épaisseuresteffectuée micro cutting method (iso 1463).